A polarization Fizeau interferometer based on birefringent thin film is presented. The interferometer adopts a birefringent thin film to obtain orthogonally polarized and strictly common-path reference and test beams. Advantages include ease of implementation on large-aperture interferometer, measuring test optics from long distance, and achieving high fringe visibility. The phase shift is obtained by combining a quarterwave plate and an analyzer. The concepts illustrated are verified experimentally.

提出了一种与快轴方向无关的λ/8波片(EWP)相位延迟量实时测量方法。准直激光束经过圆起偏器(CP)和被测λ/8波片后形成测量光束，测量光束由二维正交光栅(2DOG)分束形成4束衍射子光束，它们经过检偏器阵列(AA)后由光电探测器阵列(PA)接收，利用探测到的4个光强信号可以实时测量被测λ/8波片的相位延迟量，且测量结果不受激光器光强波动的影响。实验中，标称值为45°、精度为λ/300的被测λ/8波片在不同快轴方向上的相位延迟量的测量平均值及其标准差分别为45.1°和0.4°。相位延迟量的测量平均值、标准差与被测λ/8波片的相位延迟量标称值、精度相符，很好地验证了该方法的有效性。

提出一种基于相位调制和样品摆动的1/4波片相位延迟量测量方法。准直激光束依次通过起偏器、相位调制器、待测1/4波片和检偏器由光电探测器所接收，光信号被转换成电信号后经过放大、滤波以进行数据处理。利用待测1/4波片的摆动可以计算得到与快轴方位角无关的归一化二次谐波分量，在无需知道1/4波片快轴方位角的情况下得到其相位延迟量。实验中对一块石英1/4波片进行了测量，实验结果与现有快轴方向确定条件下的光弹调制测量方法的测量结果一致，某一快轴方位角上多次测量的重复性为0.13°，不同快轴方位角上多次测量的再现性为0.17°。